當前位置：
產品分類-
產品型號
BX-Y1243A -
廠商性質
生產廠家 -
更新時間
2024-05-15 -
瀏覽次數
1245
產品描述
200A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關觸點、繼電器、汽車開關等相關產品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產品使用.
18501309179
18501309179
相關文章
產品型號
BX-Y1243A廠商性質
生產廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數
1245產品描述
200A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關觸點、繼電器、汽車開關等相關產品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產品使用.
產品型號
BX-Y1243B廠商性質
生產廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數
1338產品描述
300A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關觸點、繼電器、汽車開關等相關產品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產品使用.
產品型號
BX-Y1245廠商性質
生產廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數
1321產品描述
200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
產品型號
BX-Y1245A廠商性質
生產廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數
1455產品描述
400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
產品型號
BX-Y1245B廠商性質
生產廠家更新時間
2024-05-15瀏覽次數
1293產品描述
600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。